W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

IEEE International Test Conference ITC 2006 : Santa Clara, 22-27 October 2006

Dodatkowy tytuł

EN ITC 2006

Rok publikacji

2006

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2006

ISBN

1-4244-0291-3

eISBN

1-4244-0292-1

DOI

10.1109/ITC10357.2006

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/4079296/proceeding

Rozdziały
X-press compactor for 1000x reduction of test data (s. 18.1-1-18.1-10)
Konferencja

IEEE International Test Conference ITC 2006, 22-27.10.2006, Santa Clara, United States

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.