Tytuł
IEEE International Test Conference ITC 2006 : Santa Clara, 22-27 October 2006
Dodatkowy tytuł
EN ITC 2006
Rok publikacji
2006
Typ książki
materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2006
ISBN
1-4244-0291-3
eISBN
1-4244-0292-1
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN