X-press compactor for 1000x reduction of test data

Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee; Wu-Tung Cheng; Mark Kassab

doi:10.1109/TEST.2006.297643

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / X-press compactor for 1000x reduction of test data

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

X-press compactor for 1000x reduction of test data

Autorzy

^{[ 1 ]} Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2006

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN The paper presents a two-stage test response compactor with an overdrive section and scan chain selection logic. The proposed solution is capable of handling a wide range of X state profiles, offers compaction much higher than the ratio of scan chains to compactor outputs, and provides excellent diagnostic resolution.

Strony (od-do)

18.1-1 - 18.1-10

DOI

10.1109/TEST.2006.297643

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/4079321

Uwagi

Paper 18.1

Książka

IEEE International Test Conference ITC 2006 : Santa Clara, 22-27 October 2006

Zaprezentowany na

IEEE International Test Conference ITC 2006, 22-27.10.2006, Santa Clara, United States

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN