W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003

Rok publikacji

2003

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2003

Liczba stron

1572

ISBN

0-7803-8106-8

DOI

10.1109/TEST.2003

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/8970/proceeding

Uwagi

2 volumes; 1350+222 pages

Rozdziały
Convolutional compaction of test responses (s. 745-754)
Konferencja

International Test Conference ITC 2003, 30.09.2003 - 02.10.2003, Charlotte, USA

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.