W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Proceedings International Test Conference 2002
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Proceedings International Test Conference 2002

Dodatkowy tytuł

EN ITC International Test Conference 2002

Rok publikacji

2002

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Miejsce

Piscataway, United States

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2002

Liczba stron

1255

ISBN

0-7803-7542-4

DOI

10.1109/TEST.2002

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/8073/proceeding

Rozdziały
Embedded deterministic test for low cost manufacturing test (s. 301-310)
Konferencja

IEEE International Test Conference ITC 2002, 8-10.10.2002, Baltimore, United States

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.