Fault diagnosis in designs with convolutional compactors

Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Chen Wang

doi:10.1109/TEST.2004.1386986

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Fault diagnosis in designs with convolutional compactors

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Fault diagnosis in designs with convolutional compactors

Autorzy

Grzegorz Mrugalski (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Artur Pogiel (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Janusz Rajski
Jerzy Tyszer (WE) ^{[ 1 ][ P ]}
Chen Wang

^{[ 1 ]} Instytut Elektroniki i Telekomunikacji (IEt), Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2004

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN The paper introduces a new non-adaptive fault diagnosis technique for scan-based designs. The proposed scheme guarantees accurate and time-efficient identification of failing scan cells based on results of a convolutional test response compaction.

Strony (od-do)

498 - 507

DOI

10.1109/TEST.2004.1386986

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/1386986

Książka

International Test Conference 2004 : Proceedings

Zaprezentowany na

2004 IEEE International Test Conference ITC 2004, 26-28.10.2004, Charlotte, USA

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN