W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

Proceedings 21st IEEE VLSI Test Symposium

Rok publikacji

2003

Typ książki

materiały konferencyjne

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2003

Liczba stron

443

ISBN

0-7695-1924-5

DOI

10.1109/VTEST.2003

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/8533/proceeding

Rozdziały
High speed ring generators and compactors of test data [logic IC test] (s. 57-62)
Konferencja

21st IEEE VLSI Test Symposium, 01.05.2003, Napa, USA

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.