W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / 52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), San Francisco, CA, 8-12 June 2015
Zgłoś uwagę

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), San Francisco, CA, 8-12 June 2015

Rok publikacji

2015

Typ książki

książka pod redakcją

Język publikacji

angielski

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2015

ISBN

978-1-4503-3520-1

DOI

10.1145/2744769

URL

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/7155749/proceeding

Rozdziały
Design for low test pattern counts (s. 1-6)
Konferencja

52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 8-12.06.2015, San Francisco, United States

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.