Tytuł
Design for low test pattern counts
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Dziekanat Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2015
Typ rozdziału
referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- Design for testability
- scan-based test
- test data compression
Strony (od-do)
1 - 6
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN