Tytuł
IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 6-8 October 2015
Rok publikacji
2015
Typ książki
książka pod redakcją
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2015
ISBN
978-1-4673-6578-9
Opublikowano w
Publikacja indeksowana w
WoS (15)
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN