A deterministic BIST scheme based on EDT-compressed test patterns

Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Łukasz Rybak; Jędrzej Solecki; Jerzy Tyszer

doi:10.1109/TEST.2015.7342398

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / A deterministic BIST scheme based on EDT-compressed test patterns

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

A deterministic BIST scheme based on EDT-compressed test patterns

Autorzy

^{[ 1 ]} Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ 2 ]} Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2015

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

1 - 8

DOI

10.1109/TEST.2015.7342398

Książka

IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 6-8 October 2015

Zaprezentowany na

46th IEEE International Test Conference (ITC), 6-8.10.2015, Anaheim, CA, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN