W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Embedded deterministic test points for compact cell-aware tests

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2015

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN The introduction of FinFET technology has accelerated the adoption of patterns that target cell internal defects such as cell-aware tests. Even though cell-aware tests can replace stuck-at and transition patterns from the screening point of view, we have to address the increase in test data volume. This combined with the growing gate counts enabled by new technology nodes is driving the need for even greater compression levels. In this paper, we present a novel test points technology designed to reduce deterministic pattern counts for cell-aware tests. The technology is based on identification and resolution of conflicts across internal signals allowing ATPG to significantly increase the number of faults targeted by a single pattern. Experimental results on a number of industrial designs with test compression demonstrate that the proposed test points are effective in achieving, on average, a 3×–4× multiplicative increase in compression for 1-cycle and 2-cycle cell-aware patterns.

Strony (od-do)

1 - 8

DOI

10.1109/TEST.2015.7342383

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/7342383

Książka

IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 6-8 October 2015

Zaprezentowany na

46th IEEE International Test Conference (ITC), 6-8.10.2015, Anaheim, CA, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.