SIN PP | O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

O pewnym ryzyku niepowodzenia rynkowego w odniesieniu do produktów

Autorzy

Zbigniew Kłos (WMRiT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Katedra Podstaw Konstrukcji Maszyn, Wydział Maszyn Roboczych i Transportu, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2015

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

polski

Strony (od-do)

181 - 193

Książka

XVIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa : Jakość i ryzyko w organizacji w warunkach zmienności otoczenia QUALITY&RISK 2015, Kazimierz Dolny, 20-22 listopada 2015 / Katedra Zarządzania Jakością i Wiedzą, Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie

Zaprezentowany na

XVIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa : Jakość i ryzyko w organizacji w warunkach zmienności otoczenia QUALITY&RISK 2015, Kazimierz Dolny, 20-22 listopada 2015 / Katedra Zarządzania Jakością i Wiedzą, Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie, 20-22.11.2015, Kazimierz Dolny, Poland

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.