Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Raport

Tytuł dzieła

VLSI testing - test data compression

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r1868_2021

Słowa kluczowe
PL
  • VLSI test
  • test compression
  • test response compaction
  • low power test
  • built-in self-test
Data

04.05.2021

Język

angielski

Liczba stron lub objętość dzieła

64

Typ dzieła

materiały dydaktyczne