Tytuł dzieła
VLSI testing - test data compression
Autorzy
[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Identyfikator dzieła
r1868_2021
Słowa kluczowe
PL
- VLSI test
- test compression
- test response compaction
- low power test
- built-in self-test
Data
04.05.2021
Język
angielski
Liczba stron lub objętość dzieła
64
Typ dzieła
materiały dydaktyczne
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN