Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Raport

Tytuł dzieła

VLSI testing - memory test

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r1869_2021

Słowa kluczowe
PL
  • VLSI test
  • memory test
  • memory fault models
  • memory built-in self-test
Data

04.05.2021

Język

angielski

Liczba stron lub objętość dzieła

47

Typ dzieła

materiały dydaktyczne