SIN PP | VLSI testing - memory test

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Raporty / VLSI testing - memory test

Zgłoś uwagę

Raport

Tytuł dzieła

VLSI testing - memory test

Autorzy

Jerzy Tyszer (WIiT) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Identyfikator dzieła

r1869_2021

Słowa kluczowe

PL

VLSI test
memory test
memory fault models
memory built-in self-test

Data

04.05.2021

Język

angielski

Liczba stron lub objętość dzieła

47

Typ dzieła

materiały dydaktyczne

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.