Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Raport

Tytuł dzieła

VLSI Testing – Design for test

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r477_2019

Słowa kluczowe
PL
  • test generation
  • design for testability
Data

28.11.2019

Język

angielski

Liczba stron lub objętość dzieła

30

Typ dzieła

materiały dydaktyczne