Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Raport

Tytuł dzieła

VLSI Testing – Design for test part 2

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Identyfikator dzieła

r916_2020

Słowa kluczowe
PL
  • test generation
  • design for testability
Data

04.05.2020

Język

angielski

Liczba stron lub objętość dzieła

21

Typ dzieła

materiały dydaktyczne