Tytuł dzieła
VLSI Testing – Design for test part 2
Autorzy
[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Identyfikator dzieła
r916_2020
Słowa kluczowe
PL
- test generation
- design for testability
Data
04.05.2020
Język
angielski
Liczba stron lub objętość dzieła
21
Typ dzieła
materiały dydaktyczne
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN