1.

Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Mark Kassab, Nilanjan Mukherje // 0104

Invention

2.

CONTINUOUS APPLICATION AND DECOMPRESSION OF TEST PATTERNS AND SELECTIVE COMPACTION OF TEST RESPONSES / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Mark Kassab, Nilanjan Mukherjee // 0098

Invention

3.

Deterministic Built-In Self-Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Łukasz Rybak, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0085

Invention

4.

Deterministic Stellar built-in self test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Yjingdi Liu, Nijanjan Mukherjee // 2/Z/2023

Invention

5.

Flexible isometric decompressor architecture for test compression / Janusz Rajski, Yu Huang, Sylwester Milewski, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0117

Invention

6.

Isometric Test Compression With Low Toggling Activity / Jerzy Tyszer (WIiT) // 0054

Invention

7.

Low Power Testing Based On Dynamic Grouping Of Scan / Janusz Rajski, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0083

Invention

8.

Multi-stage test response compactors / Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Mark Kassab, Wu-Tung Cheng // 0099

Invention

9.

MULTI-STAGE TEST RESPONSE COMPACTORS / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Mark Kassab, Wu-Tung Cheng // 0057

Invention

10.

SCAN-BASED TEST ARCHITECTURE FOR INTERCONNECTS IN STACKED DESIGNS / Jerzy Tyszer (WIiT) // 0056

Invention

11.

Scan chain stitching for test-per-clock / Janusz Rajski, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT), Grzegorz Mrugalski // 0102

Invention

12.

Sposób identyfikacji odbiorców wiadomości w systemie radiokomunikacyjnym z kodowaną modulacją z przeplotem bitowym i iteracyjnym dekodowaniem / Maciej Krasicki (WIiT) // 2117

Invention

13.

Test Application Time Reduction Using Capture-Per-Cycle Test Points / Janusz Rajski, Sylwester Milewski, Nilanjan Mukherje, Jędrzej Solecki, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 0100

Invention

14.

TEST-PER-CLOCK BASED ON DYNAMICALLY-PARTITIONED RECONFIGURABLE SCAN CHAINS / Jerzy Tyszer (WIiT) // 0055

Invention

15.

Test Point-Enhanced Hardware Security / Janusz Rajski, Nilanjan Mukherjee, Elham Moghaddam, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 010

Invention

16.

Test point insertion for low test pattern count / Janusz Rajski, Elham Moghaddam, Nilanjan Mukherje, Jerzy Tyszer (WIiT), Justyna Zawada // 0101

Invention

17.

Test Scheduling and Test Access in Test Compression Environment / Mark Kassab, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jakub Janicki, Jerzy Tyszer (WIiT) // 0118

Invention

18.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test / Jerzy Tyszer (WIiT), Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Łukasz Rybak, Nilanjan Mukherjee // 3/Z/2023

Invention

19.

Universal compactor architecture for testing circuits / Jerzy Tyszer (WIiT), Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Bartosz Włodarczak (WIiT) // Z/11/2023

Invention