Praca dyplomowa
Tytuł
Optimizing test patterns for VLSI digital circuits
Wydział
Wydział Informatyki, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
PL Optymalizacja testów dla układów cyfrowych wielkiej skali integracji
Język
angielski
Typ
praca magisterska
Data obrony
21.06.2018
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN