Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozprawa doktorska

Tytuł

Testing digital integrated circuits with novel low power high fault coverage techniques and a new scan architecture

Autorzy

Promotor

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Recenzenci

Wariant tytułu

PL Testowanie cyfrowych układów scalonych z wykorzystaniem nowej ścieżki testującej oraz nowych metod o wysokim pokryciu uszkodzeń i ograniczonym poborze energii

Język

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • scan chain
  • low-power test
  • BIST deterministic test
PL
  • ścieżka testująca
  • testowanie o ograniczonym poborze energii
  • autotestowanie
  • testowanie deterministyczne
Liczba stron

104

Dziedzina wg OECD

nauki inżynieryjne i techniczne

Dyscyplina wg KBN

telekomunikacja

Sygnatura rozprawy w wersji drukowanej

DrOIN 1804

Katalog on-line

to20179025

Pełny tekst rozprawy doktorskiej

Pobierz plik

Poziom dostępu do pełnego tekstu

publiczny

Pierwsza recenzja

Sybille Hellebrand

Miejsce

Paderborn, Niemcy

Data

07.10.2015

Język

angielski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Druga recenzja

Andrzej Kraśniewski

Miejsce

Warszawa, Polska

Data

30.09.2015

Język

polski

Tekst recenzji

Pobierz plik

Poziom dostępu do recenzji

publiczny

Status rozprawy

rozprawa doktorska

Miejsce obrony

Poznań, Polska

Data obrony

17.11.2015

Jednostka nadająca tytuł

Rada Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji Politechniki Poznańskiej

Uzyskany tytuł

doktor nauk technicznych w dyscyplinie: telekomunikacja, w specjalności: technika cyfrowa