W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

IEEE International Test Conference (ITC 2013), Anaheim, CA, 6-13 September, 2013

Rok publikacji

2013

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2013

ISBN

978-1-4799-0859-2

Rozdziały
Fault diagnosis of TSV-based interconnects in 3-D stacked designs (s. 1-9)
EDT bandwidth management - Practical scenarios for large SoC designs (s. 1-10)
Konferencja

IEEE International Test Conference (ITC 2013), 6-13.09.2013, Anaheim, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.