W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

EDT bandwidth management - Practical scenarios for large SoC designs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2013

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN The paper discusses practical issues involved in applying scan bandwidth management to large industrial system-on-chip (SoC) designs deploying embedded test data compression. These designs pose significant challenges to the channel bandwidth management methodology itself, flow, and tools. The paper introduces several test logic architectures that facilitate preemptive test scheduling for SoC circuits with EDT-based test data compression. Moreover, some recently proposed SoC test scheduling algorithms are refined accordingly by making provision for (1) setting up test configurations minimizing test time, (2) optimization of SoC pin allocation based on scan data volume, and (3) handling physical constraints in realistic applications. Detailed presentation of a case study is illustrated with a variety of experiments that allow one to learn how to tradeoff different architectures and test scheduling.

Strony (od-do)

1 - 10

DOI

10.1109/TEST.2013.6651898

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6651898

Książka

IEEE International Test Conference (ITC 2013), Anaheim, CA, 6-13 September, 2013

Zaprezentowany na

IEEE International Test Conference (ITC 2013), 6-13.09.2013, Anaheim, United States

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.