Diagnostyka termowizyjna w elektrotechnice
[ 1 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
EN The Infrared Diagnostics in the Electrical Engineering
2017
scientific article
polish
- kamera termowizyjna
- współczynnik emisyjności
- promieniowanie podczerwone
PL Tematyka artykułu dotyczy badań związanych z pomiarami termowizyjnymi i ich wykorzystaniem w diagnostyce urządzeń elektronicznych. W dobie wzrastającej liczby urządzeń elektronicznych ważną rolę odgrywa wczesne zdiagnozowanie nieprawidłowości ich pracy. Ponieważ uszkodzenia elementów często są poprzedzone wzrostem temperatury, skutecznym sposobem ich diagnozowania jest wykorzystanie kamery termowizyjnej. W artykule przedstawiono podstawowe zagadnienia obejmujące pomiary termowizyjne, zwrócono uwagę na występujące źródła błędów w pomiarach kamerami termowizyjnymi oraz zaprezentowano zastosowaną aparaturę pomiarową. Dla trzech wybranych kamer termowizyjnych przeprowadzono badania porównawcze, prezentujące wpływ czynników zakłócających na poprawność wyniku pomiaru. Zaprezentowano również możliwości diagnostyczne opisanych kamer oraz wyniki pomiarów termowizyjnych dla wybranych elementów elektronicznych.
EN The subject of this article concerns the studies related to the infrared measurements and their usage in the diagnosis of electronic devices. In the era of the increasing number of electronic devices, the early diagnosis of abnormalities of their work plays an important role. Because of the damage of the elements are often preceded by the increase of the temperature, the effective way of diagnosing them is the use of the infrared camera. In this article the basis issues including infrared measurements were presented, the common errors in the infrared measurements was highlighted and the used measurement equipment was presented. The comparative studies that show the impact of interfering factors on the correctness of the measurement result were carried out for the three selected infrared cameras. The diagnostic capabilities of the described camera and the results of the infrared measurement for the selected electronic elements were also presented.
259 - 269
public
9
9