SIN PP | The influence of the internal and external sources of heat on the accuracy of the measurement of surface topography with the use of contact profilometer

W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / The influence of the internal and external sources of heat on the accuracy of the measurement of surface topography with the use of contact profilometer

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

The influence of the internal and external sources of heat on the accuracy of the measurement of surface topography with the use of contact profilometer

Autorzy

Michał Wieczorowski (WBMiZ) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Karol Grochalski (WBMiZ) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Bartosz Gapiński (WBMiZ) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}
Katarzyna Peta (WBMiZ) ^{[ 1 ][ 2.9 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.9] Inżynieria mechaniczna

Rok publikacji

2017

Typ rozdziału

abstrakt

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe

EN

surface topography
influence of environmental temperature
climatic chamber
thermal elongation

Strony (od-do)

161 - 162

Książka

16th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Gothenburg, Sweden (26) 27–29th of June 2017 : Conference Abstracts

Zaprezentowany na

16th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces (Met&Props 2017), 27-29.06.2017, Gothenburg, Sweden

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.