Basic characteristics of IEC flickermeter processing
[ 1 ] Katedra Sterowania i Inżynierii Systemów (KI), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Wydział Elektryczny, Politechnika Poznańska | [ P ] employee
2012
scientific article
english
362849-1 - 362849-9