SIS PUT | Opracowanie metodyki pomiarowej odniesionej do technologii przyrostowej, stosowanych materiałów konstrukcyjnych oraz obróbki postprocesowej i wykończeniowej

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Opracowanie metodyki pomiarowej odniesionej do technologii przyrostowej, stosowanych materiałów konstrukcyjnych oraz obróbki postprocesowej i wykończeniowej

Submit a comment

Report

Works title

Opracowanie metodyki pomiarowej odniesionej do technologii przyrostowej, stosowanych materiałów konstrukcyjnych oraz obróbki postprocesowej i wykończeniowej

Authors

Tomasz Bartkowiak (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Wieczorowski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Patryk Mietliński (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Karol Grochalski (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Michał Jakubowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}
Maria Kuznowicz (WIM) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r5025_2024

Keywords

metrologia powierzchni
druk 3D
mikrotomografia komputerowa
ocena parametryczna
cechy wielowejściowe

Date

20.06.2024

Language

polish

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center