SIS PUT | Charakterystyka uzyskanych warstw arylowych i polimerowych metodami spektroskopii fourierowskiej, spektroskopii Ramana, skaningowej mikroskopii elektronowej, spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, spektroskopii fotoelektronów w zakresie promieniowania X

Scientific Information System of the Poznań University of Technology

PL EN

Main page / Reports / Charakterystyka uzyskanych warstw arylowych i polimerowych metodami spektroskopii fourierowskiej, spektroskopii Ramana, skaningowej mikroskopii elektronowej, spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, spektroskopii fotoelektronów w zakresie promieniowania X

Submit a comment

Report

Works title

Charakterystyka uzyskanych warstw arylowych i polimerowych metodami spektroskopii fourierowskiej, spektroskopii Ramana, skaningowej mikroskopii elektronowej, spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, spektroskopii fotoelektronów w zakresie promieniowania X

Authors

Mariusz Sandomierski (WTCH) ^{[ 1 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Wydział Technologii Chemicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} employee

Work ID

r556921_2019

Keywords

sole diazoniowe
tytan
modyfikacja

Date

17.04.2019

Language

polish

Number of pages or volume of work

Type of work

research report

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center