Thesis
Title
Wykorzystanie zogniskowanej wiązki jonów (FIB) do strukturyzacji powierzchni półprzewodnikowych i metalicznych
Department
Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska
Promoters
Reviewers
Title variant
EN Structuring of semiconductor and conductor surfaces by means of focused ion beam (FIB)
Language
polish
Type
engineering thesis
Date of defense
09.02.2017
System created by Poznań University of Technology
and Poznan Supercomputing and Networking Center
Log in through eKonto to add to SIS