W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Prace dyplomowe / Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits

Praca dyplomowa

Pobierz BibTeX

Tytuł

Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits

Wydział

Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska

Promotorzy

Recenzenci

Wariant tytułu

PL Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits (Wyznacznie zbiorów uszkodzeń kompatybilnych w generacji testów dla układów cyfrowych VLSI)

Język

angielski

Typ

praca magisterska

Data obrony

13.10.2014

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo, w formularzu zgłoszenia publikacji do SIN, by sprostać wymogom oceny wg kryterium umiędzynarodowienia, pojawiło się nowe pole: "Praca powstała w ramach współpracy międzynarodowej".



5. stycznia 2024 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Nauki w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN. Wg pozyskanych z PBN informacji, Wykaz ma zostać wdrożony w kwietniu.
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.