Praca dyplomowa
Tytuł
Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits
Wydział
Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
PL Identification of compatible faults in automatic test pattern generation for VLSI digital circuits (Wyznacznie zbiorów uszkodzeń kompatybilnych w generacji testów dla układów cyfrowych VLSI)
Język
angielski
Typ
praca magisterska
Data obrony
13.10.2014
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN