Tytuł
IEEE International Test Conference (ITC) 2020
Rok publikacji
2020
Typ książki
monografia naukowa / materiały konferencyjne
Język publikacji
angielski
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2020
Liczba stron
300
ISBN
978-1-7281-9114-0
eISBN
978-1-7281-9113-3
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN