W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Image processing methods for interferometric shape deviation measurements with sub-micron resolution

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2016

Typ rozdziału

abstrakt

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • shape deviation measurements
  • non-tactile methods
  • optical measurements
  • physics
  • surface metrology
Strony (od-do)

147 - 148

Książka

5th International Conference on Surface Metrology, Poznań, April 4-7, 2016 : Book of Abstracts

Zaprezentowany na

5th International Conference on Surface Metrology, 4-7.04.2016, Poznań, Poland

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.