Tytuł dzieła
VLSI testing – Fault simulation
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Identyfikator dzieła
r559958_2019
Słowa kluczowe
EN
- test generation
- design for testability
Data
17.06.2019
Język
angielski
Liczba stron lub objętość dzieła
30
Typ dzieła
materiały dydaktyczne
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu SINUS
opracowanemu przez Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN