Tytuł
IEEE International Test Conference (ITC 2013), Anaheim, CA, 6-13 September, 2013
Rok publikacji
2013
Wydawca
Wydawca z listy Ministerstwa
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Data opublikowania
2013
ISBN
978-1-4799-0859-2
Publikacja indeksowana w
WoS (15)
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN