W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Książka

Pobierz BibTeX

Tytuł

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014

Rok publikacji

2014

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy Ministerstwa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2014

ISBN

978-1-4799-6030-9

Rozdziały
High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs (s. 74-80)
Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control (s. 174-179)
Konferencja

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.