Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Książka

Tytuł

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014

Rok publikacji

2014

Wydawca

IEEE

Wydawca z listy MNiSW

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Data opublikowania

2014

ISBN

978-1-4799-6030-9

Rozdziały
High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs (s. 74-80)
Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control (s. 174-179)
Konferencja

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China