W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN This paper introduces a low-power test compression scheme that can also be used in a conventional BIST environment. The key contribution is an observation that simple broadcasting of a constant value to predetermined subsets of scan chains allows visible reductions of both toggling rates and pattern counts provided these subsets can be regrouped when feeding scan chains with either decompressed test patterns or pseudorandom vectors. While the proposed solution requires minimal modifications of the existing scan gating logic, its synergistic use with test compression algorithms yields a low scan load switching activity, reduced test time, and less intensive traffic of control data. Consequently, the proposed scheme helps to resolve problems related to test power dissipation and elevated test durations.

Strony (od-do)

174 - 179

DOI

10.1109/ATS.2014.35

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6979096

Książka

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014

Zaprezentowany na

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.