Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs
Submit a comment

Chapter

Download BibTeX

Title

High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs

Authors

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Year of publication

2014

Chapter type

paper

Publication language

english

Pages (from - to)

74 - 80

DOI

10.1109/ATS.2014.25

Book

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014

Presented on

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

3. listopada 2023 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Edukacji i Nauki o zmianie i sprostowaniu komunikatu w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych.

Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN.
This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.