Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs

Rozdział

Tytuł High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs
Autorzy

1 Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

74 - 80

DOI 10.1109/ATS.2014.25
Książka IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014
Zaprezentowany na IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China