W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

74 - 80

DOI

10.1109/ATS.2014.25

Książka

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, Hangzhou, 16-19 Nov. 2014

Zaprezentowany na

IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS), 2014, 16-19.11.2014, Hangzhou, China

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.