Tytuł
High-speed serial embedded deterministic test for system-on-chip designs
Autorzy
[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2014
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN