Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

Quality assurance in memory built-in self-test tools

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

39 - 44

DOI

10.1109/DDECS.2014.6868760

Książka

17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Warsaw, Poland, 23-25 April 2014

Zaprezentowany na

17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 23-25.04.2014, Warsaw, Poland

Publikacja indeksowana w

WoS