W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Quality assurance in memory built-in self-test tools

Autorzy

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Streszczenie

EN In the paper, two methods of ensuring high quality of the memory built-in self-test tools are presented. The described ideas illustrate general methods and are applicable to any commercial memory BIST tool. The first solution describes controller emulation in order to validate each step of the real controller's operations. The second approach presents a way to determine the test algorithms' fault coverage by means of the memory fault simulator. The experimental results show functional benefits and effectiveness of the proposed solutions.

Strony (od-do)

39 - 44

DOI

10.1109/DDECS.2014.6868760

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/6868760

Książka

17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Warsaw, Poland, 23-25 April 2014

Zaprezentowany na

17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 23-25.04.2014, Warsaw, Poland

Publikacja indeksowana w

WoS (15)

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.