Trwa generowanie pliku...

Strona główna / Publikacje / Quality assurance in memory built-in self-test tools

Rozdział

Tytuł Quality assurance in memory built-in self-test tools
Autorzy

1 Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | P pracownik

Rok publikacji

2014

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Strony (od-do)

39 - 44

DOI 10.1109/DDECS.2014.6868760
Książka 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Warsaw, Poland, 23-25 April 2014
Zaprezentowany na 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 23-25.04.2014, Warsaw, Poland
Publikacja indeksowana w

WoS