W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Topological electronic effects in exfoliated thin films of bismuth telluride
Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Topological electronic effects in exfoliated thin films of bismuth telluride

Autorzy

[ 1 ] Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.8] Inżynieria materiałowa

Rok publikacji

2017

Opublikowano w

Physica Status Solidi B

Rocznik: 2017 | Tom: vol. 254 | Numer: no. 9

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • Bi2Te3
  • bismuth telluride
  • electronic band structure
  • surface states
  • topological insulators
Data udostępnienia online

14.09.2017

Strony (od-do)

1700086-1 - 1700086-6

DOI

10.1002/pssb.201700086

URL

http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssb.201700086/epdf

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

20

Punktacja Ministerstwa / czasopismo w ewaluacji 2017-2021

20

Impact Factor

1,729

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo, w formularzu zgłoszenia publikacji do SIN, by sprostać wymogom oceny wg kryterium umiędzynarodowienia, pojawiło się nowe pole: "Praca powstała w ramach współpracy międzynarodowej".



5. stycznia 2024 r. ogłoszony został Komunikat Ministra Nauki w sprawie wykazu czasopism naukowych i recenzowanych materiałów z konferencji międzynarodowych. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (co wymuszone jest procedurami przesyłu danych o publikacjach) – zatem nowe, zmienione Komunikatem, punkty widoczne będą w SIN, gdy tylko zostaną zaktualizowane w PBN. Wg pozyskanych z PBN informacji, Wykaz ma zostać wdrożony w kwietniu.
Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.