Wstęp do ilościowej identyfikacji nieciągłości w odlewach na podstawie komputerowej analizy obrazu negatywów RT-XI

Paweł Popielarski; T. Gerke; Krzysztof Krawiec; Zenon Ignaszak; Joanna Ciesiółka

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Wstęp do ilościowej identyfikacji nieciągłości w odlewach na podstawie komputerowej analizy obrazu negatywów RT-XI

Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Wstęp do ilościowej identyfikacji nieciągłości w odlewach na podstawie komputerowej analizy obrazu negatywów RT-XI

Autorzy

^{[ 1 ]} Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | ^{[ 2 ]} Instytut Informatyki (II), Wydział Informatyki i Zarządzania, Politechnika Poznańska | ^{[ 3 ]} Instytut Technologii Materiałów, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik

Rok publikacji

2006

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

polski

Książka

XI Sympozjum Modelowanie Procesów Odlewniczych, Poznań-Śrem 26-27.10.2006

Zaprezentowany na

XI Sympozjum Modelowanie Procesów Odlewniczych, 26-27.10.2006, Śrem, Polska, Poznań, Polska

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN