W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

A Lightweight True Random Number Generator for Root of Trust Applications

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik | [ SzD ] doktorant ze Szkoły Doktorskiej

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2023

Opublikowano w

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Rocznik: 2023 | Tom: vol. 42 | Numer: iss. 9

Typ artykułu

artykuł naukowy

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • built-in-self-test
  • challenge/response-based authentication
  • FPGA
  • ring oscillator
  • ring generator
  • root of trust
  • true random number generator
Streszczenie

EN There are many schemes proposed to protect integrated circuits (ICs) against an unauthorized access and usage, or at least to mitigate security risks. They lay foundations for hardware roots of trust whose crucial security primitives are generators of truly random numbers. In particular, such generators are used to yield one-time challenges (nonces) supporting the IC authentication protocols employed to counteract potential threats such as untrusted users accessing ICs. However, IC vendors raise several concerns regarding the complexity of these solutions, both in terms of area overhead, the impact on the design flow, and testability. These concerns have motivated this work presenting a simple, yet effective, all-digital lightweight and self-testable random number generator to produce a nonce. It builds on a generic ring generator architecture, i.e., an area and time optimized version of a linear feedback shift register, driven by a multiple-output ring oscillator. A comprehensive evaluation, based on three statistical test suits from NIST and BSI, show feasibility and efficiency of the proposed scheme and are reported herein.

Strony (od-do)

2815 - 2825

DOI

10.1109/TCAD.2023.3237957

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/10020151

Punktacja Ministerstwa / czasopismo

100

Impact Factor

2,9 [Lista 2022]

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.