SIN PP | mgr inż. Bartosz Włodarczak

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Ludzie / mgr inż. Bartosz Włodarczak

Doktorant ze Szkoły Doktorskiej

Wszystkie publikacje

mgr inż. Bartosz Włodarczak

Artykuły | Rozdziały | Prawa własności intelektualnej

Jednostka organizacyjna

Wydział Informatyki i Telekomunikacji

E-mail

bartosz.wlodarczak@doctorate.put.poznan.pl

ORCID

0000-0002-0122-3500

WoS ResearcherID

AAZ-8182-2021

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

2.3 Informatyka techniczna i telekomunikacja: 100%

1.

H₂B: Crypto hash functions based on hybrid ring generators / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2024, vol. 43, iss. 2, s. 442-455

Artykuł naukowy 100 2,9
2.

A Lightweight True Random Number Generator for Root of Trust Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 9, s. 2815-2825

Artykuł naukowy 100 2,9
3.

X-masking for Deterministic In-System Tests / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems - 2023, vol. 42, iss. 11, s. 4260-4269

Artykuł naukowy 100 2,9
4.

X-Tolerant Compactor maXpress for In-System Test Applications with Observation Scan / Yingdi Liu, Sylwester Milewski (WIiT), Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems - 2021, vol. 29, no. 8, s. 1553-1566

Artykuł naukowy 100 2,775

Wszystkie ARTYKUŁY

1.

Hybrid Ring Generators for In-System Test Applications / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS). Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2023 - s. 1-6

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
2.

DIST: Deterministic In-System Test with X-masking / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - s. 20-27

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
3.

Hardware Root of Trust for SSN-based DFT Ecosystems / Janusz Rajski, Maciej Trawka, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: 2022 IEEE International Test Conference. ITC 2022. Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, 2022 - s. 450-454

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70
4.

X-Masking for In-System Deterministic Test / Grzegorz Mrugalski, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: Proceedings of the IEEE European Test Symposium 2022: IEEE, 2022 - s. [1]-[6]

Rozdział w monografii naukowej / referat 20
5.

X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test / Yingdi Liu, Sylwester Milewski, Grzegorz Mrugalski, Nilanjan Mukherje, Janusz Rajski, Jerzy Tyszer (WIiT), Bartosz Włodarczak (WIiT) // W: IEEE International Test Conference (ITC) 2020: IEEE, 2020

Rozdział w monografii naukowej / referat 20 70

Wszystkie ROZDZIAŁY

1.

Universal compactor architecture for testing circuits / Jerzy Tyszer (WIiT), Yingdi Liu, Nilanjan Mukherjee, Janusz Rajski, Grzegorz Mrugalski, Bartosz Włodarczak (WIiT) // Z/11/2023

Wynalazek

Wszystkie WYNIKI

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe

Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

Doktorant ze Szkoły Doktorskiej

mgr inż. Bartosz Włodarczak

Artykuły (4)

Rozdziały (5)

Prawa własności intelektualnej (1)