W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Hybrid Ring Generators for In-System Test Applications

Autorzy

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ 2 ] Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik | [ SzD ] doktorant ze Szkoły Doktorskiej

Dyscyplina naukowa (Ustawa 2.0)

[2.3] Informatyka techniczna i telekomunikacja

Rok publikacji

2023

Typ rozdziału

rozdział w monografii naukowej / referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • built-in self-test
  • design for testability
  • hybrid ring generators
  • linear feedback shift registers
  • phase shifters
  • ring generators
  • test response compactors
Streszczenie

EN Ring generators are high speed devices formed by transformations that alter the structure of conventional linear feedback shift registers (LFSRs) while preserving a transition function of the original circuits. They feature a reduced number of levels of XOR logic, minimized internal fan-outs, and simplified layout and routing. This paper discusses hybrid ring generators – a new class of lightweight linear finite state machines. While they use the principal design rules of conventional ring generators, the new devices can reduce the number of XOR gates up to seven times compared to conventional rings implementing the same characteristic polynomial. It makes a substantial contribution toward the performance of linear circuits used in a variety of test applications. Several issues related to hybrid ring generators such as designing MISRs, programable PRPGs, or phase shifters are also discussed in the paper along with data providing architectural details of hybrid ring generators for sizes up to 256 bits.

Strony (od-do)

1 - 6

DOI

10.1109/ETS56758.2023.10174093

URL

https://ieeexplore.ieee.org/document/10174093

Książka

2023 IEEE European Test Symposium (ETS). Proceedings

Zaprezentowany na

IEEE European Test Symposium, ETS 2023, 22-26.05.2023, Venice, Italy

Punktacja Ministerstwa / rozdział

20

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.