Tytuł
Minimal area test points for deterministic patterns
Autorzy
[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik
Rok publikacji
2016
Typ rozdziału
referat
Język publikacji
angielski
Słowa kluczowe
EN
- flip-flops
- measurement
- logic gates
- circuit faults
- silicon
- automatic test pattern generation
- signal resolution
Strony (od-do)
1 - 7
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN