W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Test point insertion in hybrid test compression/LBIST architectures

Autorzy

[ 1 ] Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik | [ D ] doktorant

Rok publikacji

2016

Typ rozdziału

referat

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • logic gates
  • circuit faults
  • built-in self-test
  • system-on-chip
  • silicon
  • automotive engineering
  • discrete fourier transforms
Strony (od-do)

1 - 10

DOI

10.1109/TEST.2016.7805826

Książka

2016 IEEE International Test Conference (ITC)

Zaprezentowany na

2016 IEEE International Test Conference (ITC), 15-17.11.2016, Houston, USA

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.