W zależności od ilości danych do przetworzenia generowanie pliku może się wydłużyć.

Jeśli generowanie trwa zbyt długo można ograniczyć dane np. zmniejszając zakres lat.

Menu

PL EN
PL EN
Strona główna / Publikacje / Image processing methods for interferometric shape deviation measurements with sub-micron resolution
Zgłoś uwagę

Rozdział

Pobierz BibTeX

Tytuł

Image processing methods for interferometric shape deviation measurements with sub-micron resolution

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2016

Typ rozdziału

abstrakt

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • shape deviation measurements
  • non-tactile methods
  • optical measurements
  • physics
  • surface metrology
Strony (od-do)

147 - 148

Książka

5th International Conference on Surface Metrology, Poznań, April 4-7, 2016 : Book of Abstracts

Zaprezentowany na

5th International Conference on Surface Metrology, 4-7.04.2016, Poznań, Poland

System tworzony przez Politechnikę Poznańską oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

Ta strona używa plików Cookies, w celu zapamiętania uwierzytelnionej sesji użytkownika. Aby dowiedzieć się więcej przeczytaj o plikach Cookies i Polityce Prywatności.