Przetwarzanie może potrwać kilka sekund...

Rozdział

Tytuł

Image processing methods for interferometric shape deviation measurements with sub-micron resolution

Autorzy

[ 1 ] Instytut Technologii Mechanicznej, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania, Politechnika Poznańska | [ P ] pracownik

Rok publikacji

2016

Typ rozdziału

abstrakt

Język publikacji

angielski

Słowa kluczowe
EN
  • shape deviation measurements
  • non-tactile methods
  • optical measurements
  • physics
  • surface metrology
Strony (od-do)

147 - 148

Książka

5th International Conference on Surface Metrology, Poznań, April 4-7, 2016 : Book of Abstracts

Zaprezentowany na

5th International Conference on Surface Metrology, 4-7.04.2016, Poznań, Poland