Continuous fast Fourier transform admittance voltammetry as a new approach for studying the change in morphology of polyaniline for supercapacitors application

J. Shabani Shayeh; P. Norouzi; M. R. Ganjali; M. Wojdyła; Krzysztof Fic; Elżbieta Frąckowiak

doi:10.1039/c5ra11962f

System Informacji Naukowej Politechniki Poznańskiej

PL EN

Strona główna / Publikacje / Continuous fast Fourier transform admittance voltammetry as a new approach for studying the change in morphology of polyaniline for supercapacitors application

Zgłoś uwagę

Artykuł

Pobierz BibTeX

Tytuł

Continuous fast Fourier transform admittance voltammetry as a new approach for studying the change in morphology of polyaniline for supercapacitors application

Autorzy

J. Shabani Shayeh
P. Norouzi
M. R. Ganjali
M. Wojdyła (WTCH) ^{[ 1 ]}
Krzysztof Fic (WTCH) ^{[ 2 ][ P ]}
Elżbieta Frąckowiak (WTCH) ^{[ 2 ][ P ]}

^{[ 1 ]} Wydział Technologii Chemicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ 2 ]} Instytut Chemii i Elektrochemii Technicznej, Wydział Technologii Chemicznej, Politechnika Poznańska | ^{[ P ]} pracownik