1.

Analysis of surface measurement data for building AI models / Marta Rępalska, Tomasz Kowaluk, Dawid Kucharski (WIM), Adam Gąska, Krzysztof Stępień, Bartosz Gapiński (WIM), Michał Nawotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, Jan Tomasik, Michał Wieczorowski (WIM), Adam Wójtowicz // W: Metrologia w Technikach Wytwarzania "Metody optyczne i sztuczna inteligencja w metrologii" : XIX Krajowa, X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, 18-20 września 2024, Wrocław : materiały konferencyjne / red. Stanisław Adamczak, Jacek Reiner - Wrocław, Polska : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2024 - s. 27-28

Abstrakt

2.

Influence of Selected Measurement Conditions on the Reliability of the Representation of Ring and Rim Features / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Maria Kuznowicz (WIM), Aleksandra Krawczyk, Jerzy Sładek, Rehan Khan // W: Advances in Manufacturing IV. Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications / red. Magdalena Diering (WIM), Michał Wieczorowski (WIM), Mukund Harugade - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 200-215

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

3.

Measurements of Geometric Quantities in an Automatic Line for the Verification of Large-Size Rings and Rims / Michał Wieczorowski (WIM), Bartosz Gapiński (WIM), Michał Jakubowicz (WIM), Dawid Kucharski (WIM), Karol Grochalski (WIM), Natalia Swojak (WIM), Lidia Marciniak-Podsadna (WIM), Aleksandra Krawczyk, Rehan Khan, Alejandro Pereira, Maciej Zakrzewicz (WIiT) // W: Innovations in Industrial Engineering III / red. José Machado, Filomena Soares, Justyna Trojanowska (WIM), Vitalii Ivanov, Katarzyna Antosz, Dagmar Cagáňová, Vijaya Kumar Manupati, Alejandro Pereira - Cham, Switzerland : Springer, 2024 - s. 75-87

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

4.

Repeatability Investigations of a Handheld Electronic Spirometer / Dawid Kucharski (WBMiZ), Marta Michalska (WBMiZ) // W: Innovations in Biomedical Engineering / red. Ewaryst Tkacz - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 77-84

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

5.

Use of White Light and Laser 3D Scanners for Measurement of Mesoscale Surface Asperities / Bartosz Gapiński (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Lidia Marciniak-Podsadna (WBMiZ), Natalia Swojak (WBMiZ), Michał Mendak (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Maciej Szelewski, Aleksandra Krawczyk // W: Advances in Manufacturing II. Volume 5 - Metrology and Measurement Systems / red. Magdalena Diering (WBMiZ), Michał Wieczorowski (WBMiZ), Christopher A. Brown - Cham, Switzerland : Springer International Publishing, 2019 - s. 239-256

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

6.

A simple setup for repeatability analysis of a low-level laser therapy scanner / Dawid Kucharski (WBMiZ), Jagoda Nowak (WBMiZ) // W: Innovations in Biomedical Engineering / red. Marek Gzik - Cham, Switzerland : Springer, 2018 - s. 97-105

Rozdział w monografii naukowej / referat 20

7.

Image processing methods for interferometric shape deviation measurements with sub-micron resolution / Dawid Kucharski (WBMiZ), Frans Meijer, Ewa Stachowska (WBMiZ) // W: 5th International Conference on Surface Metrology, Poznań, April 4-7, 2016 : Book of Abstracts: Comprint Agencja Reklamowa, 2016 - s. 147-148

Abstrakt

8.

Non-destructive Deformation Measurements and Defect Testing of Polymer Structures / Frans Meijer (WBMiZ), Karol Bula (WBMiZ), Dawid Kucharski (WBMiZ), Ewa Stachowska (WBMiZ) // W: The 24th Annual World Forum on Advanced Materials, Poznań, Poland, May 9-13, 2016 : Book of Abstracts - Poznań, Poland , 2016 - s. 231-232

Abstrakt