Praca dyplomowa
Tytuł
Low power test data compression in VLSI digital circuits
Wydział
Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
PL Low power test data compression in VLSI digital circuits (Energooszczędna kompresja danych testowych w układach cyfrowych VLSI)
Język
angielski
Typ
praca magisterska
Data obrony
26.06.2015
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN