Praca dyplomowa
Tytuł
Wykorzystanie zogniskowanej wiązki jonów (FIB) do strukturyzacji powierzchni półprzewodnikowych i metalicznych
Wydział
Wydział Fizyki Technicznej, Politechnika Poznańska
Promotorzy
Recenzenci
Wariant tytułu
EN Structuring of semiconductor and conductor surfaces by means of focused ion beam (FIB)
Język
polski
Typ
praca inżynierska
Data obrony
09.02.2017
System tworzony przez Politechnikę Poznańską
oraz Poznańskie Centrum Superkomputerowo-Sieciowe
Zaloguj się przez eKonto, aby dodać do SIN