Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / IP outcomes / Test point insertion for low test pattern count
Submit a comment

Outcome

Title

Test point insertion for low test pattern count

Creators

[ 1 ] Instytut Radiokomunikacji, Wydział Informatyki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.3] Information and communication technology

PAT number

0101

Type of protection law

invention

Submission, granting and maintenance of protection

Outcome protection

Stany Zjednoczone

Submission to the Patent Office

Patent Office submission number

14884611

Patent office submission date

15.10.2015

Country / region

Stany Zjednoczone

Granting and maintaining protection

Protection law number

10444282

Date of obtaining the right

15.10.2019

Country / region

Stany Zjednoczone

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w PBN 26.06.24 zaktualizowana została punktacja czasopism (zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5.01.24).
Nadal jednak nie zaktualizowano punktacji konferencji – co więcej, nie jest znany nawet przybliżony termin wdrożenia tej części Wykazu. Widoczna w SIN punktacja jest odzwierciedleniem punktacji w PBN (wymuszają to procedury przesyłu danych o publikacjach), zatem punkty za konferencje widoczne w SIN będą mogły zostać zmienione, dopiero gdy zostaną zaktualizowane w PBN.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.