Depending on the amount of data to process, file generation may take longer.

If it takes too long to generate, you can limit the data by, for example, reducing the range of years.

Menu

PL EN
PL EN
Main page / Publications / Embedded Deterministic Test Points
Submit a comment

Article

Download BibTeX

Title

Embedded Deterministic Test Points

Authors

[ 1 ] Katedra Radiokomunikacji, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji, Politechnika Poznańska | [ P ] employee | [ D ] phd student

Scientific discipline (Law 2.0)

[2.3] Information and communication technology

Year of publication

2017

Published in

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Journal year: 2017 | Journal volume: vol. 25 | Journal number: no. 10

Article type

scientific article

Publication language

english

Keywords
EN
  • design for testability
  • embedded test
  • scan-based testing
  • test application time
  • test data compression
  • test points
Pages (from - to)

2949 - 2961

DOI

10.1109/TVLSI.2017.2717844

Ministry points / journal

30

Ministry points / journal in years 2017-2021

30

Impact Factor

1,744

System created by Poznań University of Technology and Poznan Supercomputing and Networking Center
Szanowni Państwo,

w SIN zaktualizowana została punktacja czasopism zgodnie z Wykazem ogłoszonym 5. stycznia 2024 r.
Stało się to możliwe dopiero teraz, ponieważ, jak wcześniej Państwa informowaliśmy, SIN jest w tym zakresie zintegrowany z PBN (co wynika z procedur przesyłu danych o publikacjach) – a w PBN zmiany punktacji wdrożono dopiero 26.06.2024.

This website uses cookies to remember the authenticated session of the user. For more information, read about Cookies and Privacy Policy.